SWT-9300测厚仪日本三口电子研究所
简要描述:
SWT-9300测厚仪日本三口电子研究所 可以与探针结合使用,以测量“黑色"和“非黑色"金属基材上的涂层。电磁/涡流两用膜厚计。根据要测量的对象,可以连接兼容的铁质(电磁)探头,有色金属基体(涡流)探头和铁质/有色金属基体(双)探头。另外,您可以根据应用和测量范围选择适合于测量微小碎片等的连接探针,例如高稳定性探针。除了JIS K 5600标准外,它还符合政府机关,实验室,实验室,各种公
产品型号:
产品时间:2024-05-20
SWT-9300测厚仪日本三口电子研究所
特征
可以与探针结合使用,以测量“黑色”和“非黑色”金属基材上的涂层。
电磁/涡流两用膜厚计。根据要测量的对象,可以连接兼容的铁质(电磁)探头,有色金属基体(涡流)探头和铁质/有色金属基体(双)探头。
另外,您可以根据应用和测量范围选择适合于测量微小碎片等的连接探针,例如高稳定性探针。
除了JIS K 5600标准外,它还符合政府机关,实验室,实验室,各种公司,组织,内部法规,标准以及海外标准(例如ISO 2808)的标准。
内置统计功能
所有存储数据,组,块和分区数据都可以在LCD屏幕上统计显示。
易于理解的指南显示屏幕
易于理解的指南显示屏幕
在液晶显示屏上显示信息。简单易懂的操作指南。
上/下限值限制功能
可以为每条记录的校准曲线设置一组极限值。如果测量值超出上限/下限范围,则设定的限值会闪烁并发出警报。这对于快速确定胶片是否在控制标准规定的范围内(例如在工厂生产过程中)很有用。
纤薄的机身设计减少了手持疲劳
与传统的膜厚计(虚线部分)相比,它的主体细长。妇女和小手都具有出色的抓地力。
校准曲线配准功能
记录的校准曲线数为100(9300)。测量之前,请务必进行两点调整,“零调整”和“标准调整”。这两个调整的组合称为校准曲线(基本特性)。校准曲线会根据金属基板的材料,形状,厚度等而变化,但是您可以在注册并选择与特性匹配的校准曲线后立即开始测量。
大容量测量值存储功能
数据存储功能可实现多点测量,每天检查数千个膜厚,一个人即可执行测量和记录工作。可以节省劳力并降低检查工作的成本。记忆数为40,000点。您可以工作而不必担心剩余的内存。测量数据分为组,块等并保存。
SWT-9300测厚仪日本三口电子研究所
主机液晶显示项目
数据传输到PC
可以使用USB电缆将其连接到PC以传输测量数据。每次执行测量时实时传输。也可以一次发送存储在存储器中的数据。
SWT数据传输表
可以使用数据传输表将实时或内存测量数据传输到电子表格软件Microsoft Excel *。(必须安装USB传输驱动程序才能进行
传输。) 数据传输工作表需要Microsoft Excel 2002/2003/2007/2010中的任何一个都可以在其中运行的环境(Windows * XP / Vista / 7)。(与64Bit不兼容)
可以从Sanko Denshi实验室的网站下载USB驱动程序和数据传输表。
三口电子研究所首页
*以上组合不能保证操作。
* Microsoft Excel和Windows是Microsoft Corporation在美国的注册商标。
应用(测量例)
(使用电磁探针时,磁性金属上的非磁性膜) | 使用涡流探头时(非磁性金属上的绝缘膜) | |
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基础 | 铁,钢,铁素体不锈钢 | 铝,铝合金,铜,奥氏体不锈钢 |
涂料[绘画] | 设备,汽车,轮船,桥梁,钢结构等 | 铝制品,不锈钢室内外建筑材料,机械,水箱等 |
涂层[衬里] | 树脂,焦油环氧,橡胶,搪瓷,薄板等 | 各种设备,零件,化工厂等 |
涂层[其他] | [电镀]锌,铜,铬,锡等 | [阳极氧化膜(铝酸盐)]铝制品,铝框格,厨房用具,家用电器等 |
涂层[其他] | Metallicon,Parkerizing,氧化膜,喷涂膜等 |
租赁选项产品
- 涡流膜厚计探头NFe-8
规范
身体
测量范围 | 取决于连接探针 |
---|---|
显示方式 | 图形液晶显示屏(数据信息),带背光功能 |
校正曲线校正 | 2点校准类型(零点/标准调整点) |
校准曲线记忆 | 100片 |
测量值记忆 | 40,000点 |
数据传输 | USB低功耗无线 |
统计功能 | 内置机身 |
附加功能 | 带背光 的测量模式切换(保持/连续) 校准曲线校准值删除 自动关闭电源(约3分钟,带OFF功能) 显示分辨率切换 上下限值设置 |
电源供应 | AA电池x 2,AC适配器 |
工作温度 | 0-40°C(无凝结) |
尺寸 | 72(W)x 30(H)x 156(D)毫米 |
重量 | 210克 |
探测
普通探头
模型 | NFe-8 *选项 |
---|---|
测量方式 | 涡流类型 |
测量范围 | 0〜8毫米 |
显示分辨率 | 1μm:0至999μm0.01 mm:1至8 mm |
测量精度 | 0至100μm:±(1μm+指示值的2%) 101μm至8.00 mm:在指示值的±2%以内 |
探测 | 1点恒压接触式,V切 φ35×61mm |
测量对象 | 用于 测量相对较厚的物体, 例如铝和铜等非磁性金属基材上的绝缘涂层 |
SWT-9000系列探头
模型 | FN-325 |
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测量方式 | 用于电磁和涡流(自动基板识别) |
测量范围 | 铁基板:0至3.00毫米,非铁基板:0至2.50毫米 |
显示分辨率 | 1μm的:0〜999μm(黑色和有色金属常见) 通过切换 为0.1μm:0〜400μm的(黑色和有色金属公用) 0.5微米:400〜500微米(铁,非铁公用) 0.01毫米:1.00〜3.00毫米(铁基质) |
测量精度(垂直于光滑表面测量) | 0至100μm:±1μm(铁和非铁金属常见)或指示值的 ±2%以内 101μm至3.00 mm:±2%以内(铁基板) 101μm至2.50 mm:±2%以内(有色金属基板) |
探测 | 1点恒压接触式,V切 φ13×52mm |
测量对象 | 铁基:在钢铁等磁性金属基体上的涂层,衬里,喷涂,电镀(不包括电解镍镀层) 非铁基:在铝和铜等非磁性金属基体上的绝缘涂层对于被测物体 |