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集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX

集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX

简要描述:

集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX集成的光损耗测试仪,带有内置光源和光功率计Multifield tester AQ1100
集成的光源和光功率计,出色的可操作性和功能 还可以选择与

MM850 / 1300nm和SM1310 / 1550 / 1625nm
+ 27dBm兼容的大功率光功率计


3种型号的阵容取决于光源
SM1310 / 1550nm
SM1310 / 1550

产品型号:AQ1100

产品时间:2021-01-07

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集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX

 

集成的光损耗测试仪,带有内置光源和光功率计Multifield tester AQ1100 

集成的光源和光功率计,出色的可操作性和功能 还可以选择

MM850 / 1300nm和SM1310 / 1550 / 1625nm
+ 27dBm兼容的大功率光功率计

 

  • 3种型号的阵容取决于光源

    1. SM1310 / 1550nm
    2. SM1310 / 1550 / 1625nm
    3. MM850 / 1300nm,SM1310 / 1550nm
    4.  
  • 可以根据应用选择3种类型的光功率计

    1. 光功率计:-70至+10 dBm
    2. 大功率光功率计:-50至+27 dBm
    3. PON功率计:1490 / 1550nm分离并同时测量
  •  易于阅读的大屏幕液晶显示器
  •  日语显示,操作简便
  •  通过面对多芯光纤的测量功能
  •  配备USB(保存测量结果)
  •  PING测试功能(可选)
  •  可见光源(可选)

集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX

FX45系列光损耗测试仪,具有内置光源和光功率计,具有性价比,适用于双向损耗测量应用   

日本成本效益的光损耗测试仪已经发布。

光损耗测试
一种具有内置LD光源和光功率计的万用表,但是通过
使用两个单元可以在两个方向上测量损耗。

当必须进行施工测量时,该方法将是有效的,这是通过将两个方向上的测量值除以2并取其平均值以获得测量值而获得的。





 

可以发行日本认证的校准证书


尽管它是国外制造商的产品,但是如果您希望在购买时附上

校准证书,可以签发已经校准过的校准测试数据和校准证书(额外收费)
。 , 你可以选择。
仅光功率计部分还有一个选择。




用于

  

校准的标准可追溯到作为日本认证机构成员其他国家的校准和认证机构。
制造商:VeEX
SHINNETSUST-55DG(1.5) 1M
HUJIHARAPK-551
MILLIPOREERS-2
monotaroPM10
monotaroPC10-03
monotaro33152165
AnywireA41PB-16U-2
OJIDENOFL-1-SM2C
FUJIBS-S4
american3122N
american3120
ESTOOLHRF160
3MUXL100
STUBAKIBDTM101
KODAIRA-SSYBA-4
RKCW-ST50A-1000-Y3
IMAOSTK50-30N
FUJIWARAPRN-41
FUJIWARAEL6550-EM
FUJIWARAEH electrode for PRN-41
NIPRONEPCSA-500P-X2S
SUZUKIH-1

 

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