集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX
简要描述：
集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX集成的光损耗测试仪，带有内置光源和光功率计Multifield tester AQ1100 集成的光源和光功率计，出色的可操作性和功能 还可以选择与MM850 / 1300nm和SM1310 / 1550 / 1625nm+ 27dBm兼容的大功率光功率计 3种型号的阵容取决于光源SM1310 / 1550nmSM1310 / 1550
产品型号：AQ1100
产品时间：2023-05-23
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集成的光损耗测试仪，带有内置光源和光功率计Multifield tester AQ1100 
集成的光源和光功率计，出色的可操作性和功能 还可以选择与
MM850 / 1300nm和SM1310 / 1550 / 1625nm
+ 27dBm兼容的大功率光功率计
3种型号的阵容取决于光源
- SM1310 / 1550nm
- SM1310 / 1550 / 1625nm
- MM850 / 1300nm，SM1310 / 1550nm
可以根据应用选择3种类型的光功率计
- 光功率计：-70至+10 dBm
- 大功率光功率计：-50至+27 dBm
- PON功率计：1490 / 1550nm分离并同时测量
- 易于阅读的大屏幕液晶显示器
- 日语显示，操作简便
- 通过面对多芯光纤的测量功能
- 配备USB（保存测量结果）
- PING测试功能（可选）
- 可见光源（可选）
集成光损耗测试仪FX45系列日本进口VeEX
FX45系列光损耗测试仪，具有内置光源和光功率计，具有性价比，适用于双向损耗测量应用 
日本成本效益的光损耗测试仪已经发布。
光损耗测试
仪是一种具有内置LD光源和光功率计的万用表，但是通过
使用两个单元，可以在两个方向上测量损耗。
当必须进行施工测量时，该方法将是有效的，这是通过将两个方向上的测量值除以2并取其平均值以获得测量值而获得的。
光损耗测试
仪是一种具有内置LD光源和光功率计的万用表，但是通过
使用两个单元，可以在两个方向上测量损耗。
当必须进行施工测量时，该方法将是有效的，这是通过将两个方向上的测量值除以2并取其平均值以获得测量值而获得的。
可以发行日本*认证的校准证书
尽管它是国外制造商的产品，但是如果您希望在购买时附上
校准证书，则可以签发已经校准过的校准测试数据和校准证书（额外收费）
。 ， 你可以选择。
仅光功率计部分还有一个选择。
用于
校准的标准可追溯到作为日本*认证机构成员的其他国家的校准和认证机构。
| 制造商：VeEX |
| SHINNETSU | ST-55DG(1.5) 1M |
| HUJIHARA | PK-551 |
| MILLIPORE | ERS-2 |
| monotaro | PM10 |
| monotaro | PC10-03 |
| monotaro | 33152165 |
| Anywire | A41PB-16U-2 |
| OJIDEN | OFL-1-SM2C |
| FUJI | BS-S4 |
| american | 3122N |
| american | 3120 |
| ESTOOL | HRF160 |
| 3M | UXL100 |
| STUBAKI | BDTM101 |
| KODAIRA-SS | YBA-4 |
| RKC | W-ST50A-1000-Y3 |
| IMAO | STK50-30N |
| FUJIWARA | PRN-41 |
| FUJIWARA | EL6550-EM |
| FUJIWARA | EH electrode for PRN-41 |
| NIPRON | EPCSA-500P-X2S |
| SUZUKI | H-1 |