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日本KETT涡流膜厚仪LH-200J

日本KETT涡流膜厚仪LH-200J

简要描述:

LH-200J非磁性金属上的目标绝缘膜测量范围0至800µm或32.00mils测量精度小于50µm±1µm
LH-373测量目标非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0至1200 µm或47.0 mils测量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2%1000 µm以上±3%分辨率小于100 µm 0.1微米.
日本KETT涡流膜厚仪LH-200J

产品型号:LH-373

产品时间:2020-04-10

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本KETT涡流膜厚仪LH-200J 

型号LH-200J
测量方式涡流类型
测量目标非磁性金属上的绝缘涂层
测量范围0-800µm或32.00mils
测量精度小于50μm±1微米
50μm以上±2%
解像度小于100μm0.1微米
100μm以上1.0微米
符合标准JIS K5600-1-7,JIS H8680-2,JIS H8501
ISO2808,ISO2360,ISO2064,ISO19840
BS3900-C5,ASTM D7091-5
统计功能测量数量,平均值,
最大/最小标准偏差,程序段号
探针一点接触恒压型(LHP-J)
显示方式数字(LCD,最小显示数字为0.1µm)
外部输出RS-232C接口(传输速度2400bps)
电源供应100 V AC(50/60 Hz)或
1.5 V电池(AA碱性)x 6打印机x 4
尺寸图120mm(宽)×250mm(深)×55mm(高)
弥撒1.0公斤
配件类标准板,铝基板,标准板盒
电池1.5V(AA碱性),探头适配器
交流适配器,打印机纸,手提箱

 

日本KETT涡流膜厚仪LH-200J

 

■规格型号LH-200J测量方法涡流法测量非磁性金属上的目标绝缘膜测量范围0至800µm或32.00mils测量精度小于50µm±1µm 50µm ...

0R规格型号LH-373测量方法涡流法测量目标非磁性金属上的绝缘涂层测量范围0至1200 µm或47.0 mils测量精度小于50 µm±1 µm 50 µm以上且小于1000 µm±2%1000 µm以上±3%分辨率小于100 µm 0.1微米...

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