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IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪

IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪

简要描述:

IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪
● 测试电压测量频率:1MHz~3GHz
● 测量时间:快0.5ms(模拟测量时间)
● 测量值偏差:0.07%(用3GHz测量线圈1nH时)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

产品型号:

产品时间:2019-12-17

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IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪

可信赖的机型3GHz

● 测试电压测量频率:1MHz~3GHz
● 测量时间:快0.5ms(模拟测量时间)
● 测量值偏差:0.07%(用3GHz测量线圈1nH时)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
● 丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

 

IM7587日本日置HIOKI阻抗分析仪

基本参数(精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年)

测量模式LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量
测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保证范围100 mΩ~5 kΩ
显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
测量频率1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz)
测量信号电平功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm
电压(V) 模式: 4 mV~502 mVrms
电流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms
输出阻抗50 Ω (10 MHz时)
显示彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏
测量时间快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值)
功能接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件)
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
体积和重量主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1

 

自动化元器件检测SH-WRJ0002

背景

被动元器件,在5G和新能源车、消费类电子产品升级的带动下,需求量越来越大。MLCC、厚膜电阻等,不管是产品的功率、还是对小尺寸产品的追求。客户对产线设备的要求是,高速、高精度,高一致性的测试设备。

具体应用

根据被动元器件厂家产线的产量及良率要求,高速评价元器件特性(L/C/R/Z/Q等),测试数据分等级批次一次完成。配套测包机系统,兼顾系统兼容性和小尺寸治具。

使用仪器

LCR IM3536
高频阻抗分析仪 IM7580系列
微电阻计 RM3545
高阻计 SM7110

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